功能卡片
已实现 0 / 9
规划中光子芯片版图设计
规划中光刻
规划中薄膜沉积
规划中光波导刻蚀
规划中光纤耦合台
规划中激光调制测试
规划中探测器封装
规划中光路损耗测量
规划中试验批次记录
功能定位
建设光子芯片小规模实验线,验证光路、调制和探测器集成工艺。
建设内容
光刻与薄膜沉积、波导刻蚀、光纤耦合台、激光测试站、探测器封装、洁净环境和版图设计室。
运营流程
设计光路版图 → 制备晶圆和波导 → 集成调制与探测单元 → 封装耦合 → 测传输损耗与速度 → 反馈工艺。
数据与产出
波长、插入损耗、耦合效率、带宽、串扰、晶圆良率、热漂移和版图版本。
联动与边界
专注光子芯片实验制程;三维电子芯片封装、普通硅逻辑芯片量产与整机数据中心属于不同链条。
验收标准
同一版图至少完成晶圆制备和封装测试,损耗及良率随工艺批次可比较。